- Benchtop EDXRF-analysator
- Snelle RoHS-conformiteitscontrole (Pb, Hg, Cd, Cr, Br)
- Typische RoHS-screeningtijd: < 35 seconden (voor kunststoffen), < 170 seconden (voor messing)
- Automatische selectie van kalibratie voor RoHS-screening
- Elementbereik: Al (13) – U (92), Na (11) – U (92) met vacuümoptie
- Materiaalanalyse: volledig kwalitatieve en kwantitatieve analyse met behulp van empirische en standaardloze (FP) kalibraties
- Thin film (coatingdikte) analyse (optie)
- Monster type: vaste stoffen, vloeistoffen, poeders
- Detector: Silicon-drift detector (SDD) met hoge resolutie voor optimale spectrale resolutie en resultaatnauwkeurigheid
- Geoptimaliseerde meetomstandigheden met 5 programmeerbare filters
- Analyse-atmosfeer: omgevingslucht, vacuüm voor verhoogde gevoeligheid (optie)
- Analysegebieddiameter: 1 mm, 3 mm, 5 mm (programmeerbaar)
- Voorbeeldobservatie: kleuren-CCD-camera li>
- Analyse van één monster, monsterwisselaar met 12 posities (optie)
- Kamergrootte: 304(B) × 304(D) × 110(H)mm
- Gegevens beheer: software voor gegevens- en trendbeheer om consistente productkwaliteit en compliance te garanderen
- Bediening: laptop of desktop-pc
Productspecificaties
| Modus; | EA1400 |
|---|---|
| Meetbare elementen | Na(11)~U(92) |
| Omgeving | Normale atmosfeer (Al～U) Vacuüm (Na~U) *Optioneel |
| Röntgenrichting | Verticale röntgenstraling (coaxiale monsterobservatie) |
| Röntgenbron | Kleine luchtgekoelde röntgenbuis (Rh-doel) |
| Detector | Nieuw ontwikkelde Silicon Drift Detector (SDD) |
| Meetgebied | 1,3,5 mmφ |
| Filteren | 5 automatische filters |
| Monsterkamer | 304(B)×304(D)×110(H)mm |
| Gewicht | 69 kg |
| Stroomvereisten | AC100~240V (50/60Hz)/190VA |
| Voorbeeldwisselaar | Compatibel (12 monsters) *Optioneel |
Download PDF
Hitachi_RoHS_Brochure.pdfMeer informatie?
Neem contact met ons op