Distributiestraat 73
4283 JN Giessen
Nederland

phone +31-(0)183-445050
mail info@mctec.nl

Papier Inspectie op Vuil en Gaten (LSI-A4-DIRT & HOLES)

De Large Sheet In-speck-tor-A4 (LSI-A4) is beschikbaar voor zowel vuilvlekken als zichtbare gaten in pulp en papier volgens de normen ISO/CEN 5350-4, TAPPI T563 en PAPTAC D35. Werkend op vlakke en gladde vellen met een ISO Helderheid >30%, scant de LSI vuilvlekken en gaten in een enkele scan. Het systeem levert de essentiële informatie om een hoogwaardige productkwaliteit te waarborgen.

Demo van de blad inspector door OpTest

Productspecificaties

Productnaam: Large Sheet In-speck-tor-A4 Dirt & Holes (LSI-A4-DIRT & HOLES)
Productcode: LGC17-DIRT & LGC17-HOLES
Normen/Methoden: TAPPI T 563, ISO 5350-4, PAPTAC D35
Testmateriaal: Papier, Tissue, Karton, Pulpvellen
Fabrikant: OpTest Equipment Inc.
Beschikbaarheid: Wereldwijd

Specificaties:

De Large Sheet In-speck-tor-A4 (LSI-A4) meet vuilvlekken en zichtbare gaten in pulp en papier volgens de normen ISO/CEN 5350-4, TAPPI T563 en PAPTAC D35. Het systeem meet het aantal, de grootte en het equivalente zwarte gebied (EBA) van zichtbare vuilvlekken en gaten veel nauwkeuriger dan het menselijk oog. Werkend op vlakke en gladde vellen met een ISO Helderheid >30%, scant de LSI vuilvlekken en gaten in een enkele scan. Dit instrument biedt de informatie die nodig is om een hoogwaardige productkwaliteit te waarborgen.

Voordelen:

  • Geen nauwkeurige plaatsing van het monster nodig: Snelle prescan met “klik en sleep” voor het bepalen van de bladgrenzen.
  • Opslaan van “bladgrenzen” sjablonen: Hiermee kunt u precies dezelfde gebieden opnieuw analyseren zonder opnieuw te kalibreren.
  • Volledige resolutie weergave: Bekijk de volledige resolutie van het gescande beeld en zoom in op individuele vlekken en gaten.
  • ISO Level 2 traceerbare EBA kalibratiestandaarden: OpTest biedt een set kalibratiestandaarden die voldoen aan de eisen van de normmethoden.

Gecertificeerde Bladscanner:

  • Industriële precisie: De scanner is een hoog precisie industrieel apparaat met onderhoudsvriendelijke onderdelen, neutrale witte achtergrond en nauwkeurige mechanica in vergelijking met consumententype scanners.
  • Snelle scan: Gecertificeerd en gekalibreerd bij OpTest, scant het een A4- of letterformaat vel in 30 seconden of minder bij een optische resolutie van 16 µm/pixel (1600 dots per inch).

Resultaten en Rapporten:

De LSI-A4 biedt gedetailleerde rapportages in de Operation Viewer, waaronder:

  • Vuilvlekken: Fysieke en EBA/Tappi vlekken telling per m² en PPM (mm²/m²) met %-telfout.
  • Gaten: Fysieke en EBA gaten telling per m² en PPM (mm²/m²) met %-telfout.
  • Histogrammen voor grootteverdeling: Met instelbare boven- en ondergrenzen.
  • Beelden van de vellen en individuele vlekken en gaten: Alle data kunnen bekeken en gemanipuleerd worden in Microsoft Excel™. Een Excel-sjabloon en auto-load macro worden meegeleverd met de LSI-A4 software.

Systeemvereisten:

  • Computer: Twee beschikbare USB 2.0-poorten, minimaal 8GB RAM.
  • Besturingssysteem: Nieuwste versies van Windows™.
  • Software: Microsoft Office™ (2010 of hoger).

Afmetingen:

  • LSI-A4 Scanner: 60 cm L x 35 cm B x 14 cm H (23” L x 14” B x 5” H).
  • Computer (optioneel): 80 cm L x 70 cm B x 45 cm H (32″ L x 28″ B x 18″ H).

Aansluitingen:

  • Stroomvoorziening: 120V/60HZ of 240V/50Hz, 1 fase, 750 W minimaal. De stroom moet stabiel zijn binnen 3%, en transiënten onder ± 10%.

Meer informatie?

Neem contact met ons opplay_arrow